1997年6月建站

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Fischer 電解式膜厚計 COULOSCOPE® CMS

 


臺式儀器,使用庫倫法測量幾乎所有金屬鍍層厚度,無論基材是金屬或非金屬,無論鍍層結構是單鍍層還是多鍍層。

特點
•庫侖析法電解鍍層,符合 DIN EN ISO 2177標準
•V18測量台通過控制氣泵具有自動充填和清空測量槽中電解液功能
•大幅液晶顯示幕便於操作和顯示測量結果

典型應用領域
•該設備幾乎可以測量金屬或非金屬基材上的任何一種金屬鍍層。 甚至可以測量多層鍍層.
•測量幾乎所有金屬鍍層厚度,無論基材是金屬或非金屬,鍍層也可以是多鍍層。
 典型的可測量厚度範圍 0.05–40µm。 也適用於線材上鍍層的測量。

 

 

 

 

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