德國Automation 磁性非磁性膜厚計 QNix8500，標準記憶型《安邦儀器》

產品特點：
測量前素材歸零即可，測頭永久免校正
符合 ISO / DIN / BS / ASTM 國際標準
5 種模組化測頭，可依測量範圍選配
內附專屬連接線，測頭可內建或外接
可自行設定 1 組單／雙點校正曲線
超大型液晶高解析螢幕、附背光照明
讀值可翻轉 180° 顯示、操作便利性高
紅／綠雙色 LED 顯示操作／錯誤訊息
4 向功能鍵附照明、單手操作極簡便
　

規格	QNix 8500
適用底材	Fe：磁性底材, 鋼, 鐵 NFe：非磁性底材, 鋁, 鋅, 銅, 黃銅
測量範圍	0~2000 μm (標準) 0~5000 μm (選購)
精確度	0~2000μm：±1μm+讀值2% ＞2000μm：±3.5%
解析度	標準探頭
解析度	100μm以下：0.1μm 100μm以上：1μm 1mm以上：0.01mm
探頭大小	橢圓21.5×25.5mm
測量區域	20x20mm²、凸面Φ5mm、凹面Φ30mm
底材厚度	Fe：0.2mm min. NFe：0.05mm min.
溫度範圍	0~50℃
語言介面	英文、中文
搭配測頭	QuaNix 8500 專用測頭
校正曲線	原廠1組、自建1組
記憶容量	13000筆記憶，200個數據群組
測量功能	Fe/NFe底材自動辨識、單點、連續測量、複合塗層測量
統計功能	最大值、最小值、平均值、標準差、上、下限警示
數據傳輸	2.4GHz，在無障礙空間內最遠傳輸範圍可達到10m【可選購USB無線模組】
電源供應	1.5V AA鹼性電池×2(Auto off)
尺寸重量	124×67×33mm 120g

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營業時間：週一 ~ 週五早上08:30 ~ 下午17:30	※ 現貨產品於下午15:00前下單，可當天寄出.
※ 儀器如需校正實驗室報告，報告費用另計.
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