日立HITACHI，膜厚計，手持式膜厚測試儀，CMI233《安邦儀器》

主要功能特點與規格 :
測量方法：統計顯示：讀數數量、平均值、標準差、高低讀數
●磁感應：遵從方法 ASTM B499 & B530、DIN 50981、ISO 2178和 BS 5411 Parts 9 & 11。
●渦電流：遵從方法 ASTM B244 & B259、DIN 50984、ISO 2360和 BS 5411 Parts 3。

測量範圍（選其一）：磁感應(F)：0~3000μm
渦電流(N)：0~1524μm
誤差：±5%
解析度：0.25μm
最小曲率半徑(F)：1.6mm(凸)；6.4mm(凹)
最小測量面積(F)：φ9.6mm
最小曲率半徑(N)：11.2mm(凸)；11.2mm(凹)
最小測量面積(N)：φ9.2mm
最小基体厚度：0.30mm
顯示：3LCD位數顯示
儲存容量：12,400個讀數
測量單位：μm-mil可選
電源：1個9V電池
儀器尺寸：150x80x30mm
儀器重量：260
　

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營業時間：週一 ~ 週五早上08:30 ~ 下午17:30	※ 現貨產品於下午15:00前下單，可當天寄出.
※ 儀器如需校正實驗室報告，報告費用另計.
※ 部分網頁為舊有網頁尚未更新，請以公司報價單為主.