美國Phase II，膜厚計，磁性非磁性膜厚計，PTG-3500《安邦儀器》

PHASE 2菲思圖PTG-3500磁性非磁性膜厚計可以利用渦流和電磁感應兩種不同的方法進行厚度測量。
用此先進的測厚儀，利用其一個內置探頭(PTG-3500)或我們提供的一個自動探測的外接探頭(PTG-3550)，您可以方便的測量磁性基體(金屬)上非磁性塗層的厚度或非磁性導電基體(非金屬)上非導電塗層的厚度。
PHASE 2菲思圖PTG-3500可被用於很多行業領域包括製造業，通用機械工業，商檢等。

規格：
四按鍵操作，操作簡單易懂。
單一測頭自動辨識底材，自動切換測量模式。
測量範圍：0~1250µm最大
解析度：0.1µm(0~99µm)或1µm(大於100µm)
精確度：±1um+3%讀值
顯示幕：4位數字顯示，有背光
最小測量範圍：5x5mm
最小曲率半徑：3mm
凹深：30mm
最小基體厚度：金屬：0.5mm
非金屬：0.05mm
校準：零點校準、膜片校準
電源：4節AA電池
外形尺寸：161x69x32mm
重量：260g
　

※ 請認明廠牌【phase II】才是美國菲思圖的膜厚計。

台南總公司電話：06-2020229 傳真：06-2020234 節費盒電話：07010024091 電子信箱：an.bomb@msa.hinet.net 網址：http://www.anbomb.com/ 地址：71043 台南市永康區中正路279巷1之1號【亞太工業區】	桃園業務處電話：03-3014779 傳真：03-3014760 電子信箱：ban.han@msa.hinet.net 地址：33046 桃園市桃園區安慶街133巷12號8樓

營業時間：週一 ~ 週五早上08:30 ~ 下午17:30	※ 現貨產品於下午15:00前下單，可當天寄出.
※ 儀器如需校正實驗室報告，報告費用另計.
※ 部分網頁為舊有網頁尚未更新，請以公司報價單為主.