菲尼克斯 PHYNIX

磁性非磁性膜厚計 Surfix® SX

三種標準探頭 - 任選其一
參考圖片
探頭型號	FN 1.5（兩用）	F 1.5（磁性）	N 1.5（渦流）
量測範圍	0 - 1,500 µm (FN)	0 - 1,500 µm (F)	0 - 1,500 µm (N)
精度	歸零校準：±1μm+讀值2% 標準片校準：±1μm+讀值1%	歸零校準：±1μm+讀值2% 標準片校準：±1μm+讀值1%	歸零校準：±1μm+讀值2% 標準片校準：±1μm+讀值1%
最小單位	0~499.9μm   解析度0.1μm 500~1500μm   解析度1μm	0~499.9μm   解析度0.1μm 500~1500μm   解析度1μm	0~499.9μm   解析度0.1μm 500~1500μm   解析度1μm
使用溫度	0 °C to 60 °C	0 °C to 60 °C	0 °C to 60 °C
測量區域	5 × 5mm2	5 × 5mm2	5 × 5mm2
尺寸	Ø 14 mm × 83 mm	Ø 14 mm × 83 mm	Ø 14 mm × 83 mm

【選購】高溫接觸頭
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型號	10098	10844
量測範圍	0 - 1,500 µm	0 - 1,000 µm
精度	±1µm + 讀值2%	±10µm + 讀值2%
使用溫度	-15 °C to + 150 °C	-15 °C to + 300 °C
接觸時間	最長2秒	最長2秒
尺寸	Ø 19 mm × 12 mm	Ø 19 mm × 10 mm

【選購】探頭
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探頭型號	FN 1.5R	FN 1.5/90°	FN 3.5	F 10	F 20
	F 1.5R		F3.5
量測範圍	0-1,500 µm (FN and F)	0 - 1,500 µm (FN)	0 - 3,500 µm (FN and F) 0 - 3,000 µm (N)	0 - 10 mm (F)	0 - 20 mm (F)
精度	歸零校準：±1μm+讀值2% 標準片校準：±1μm+讀值1%	歸零校準：±1μm+讀值2% 標準片校準：±1μm+讀值1%	歸零校準：±2μm+讀值2% 標準片校準：±2μm+讀值1%	歸零校準：±5μm+讀值2% 標準片校準：±3μm+讀值1%	歸零校準：±10μm+讀值4% 標準片校準：±10μm+讀值2%
使用溫度	0 °C to 60 °C	0 °C to 60 °C	0 °C to 60 °C	0 °C to 60 °C	0 °C to 60 °C
尺寸	Ø 16 × 24 × 62 mm	8 × 11 × 170 mm	Ø 25 × 47 mm	Ø 25 × 47 mm	Ø 50 × 57 mm

【選購】測量台
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型號	10026
探頭安裝孔	Φ14mm
最大高度調節	100mm
測量台座	120×160×20mm
重量	約2.4Kg

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營業時間：週一 ~ 週五     早上08:30 ~ 下午17:30	※ 現貨產品於下午15:00前下單，可當天寄出.
※ 儀器如需校正實驗室報告，報告費用另計.
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