膜厚計採用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損傷測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:橡膠、油漆、塑膠、陽極氧化膜等)。

1. a) 磁性法(F型測頭)

當測頭與覆蓋層接觸時，測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路，由於非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可導出覆蓋層的厚度。

1. b) 渦流法(N型測頭)

利用高頻交變電流在線圈中產生一個電磁場，當測頭與覆蓋層接觸時，金屬基體上產生電渦流，並對測頭中的線圈產生反饋作用，通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。