膜厚計操作準備與校正

1. ‌開機檢查‌：接通電源，確認電量充足，清潔探頭及被測表面，去除灰塵油污，避免影響測量結果 。‌‌
2. ‌儀器校正‌：進入校準介面，選擇零點校正、單點校正模式。將探頭置於無塗層基材或標準片上，按提示完成校準，確保誤差在標準範圍內 。‌‌
3. ‌參數設置‌：根據基材類型（鐵材 Fe/非鐵材 NFe）選擇測量模式，實踐中一般選自動識別 。‌‌

測量與資料記錄

1. ‌規範測量‌：探頭垂直按壓被測表面，保持穩定不晃動，等待數值顯示，通常 0.5 秒即可讀數 。‌‌
2. ‌多點取值‌：建議在同一區域測量 3-5 個點，取平均值以減少偶然誤差，反映區域厚度情況 。‌‌
3. ‌資料記錄‌：記錄厚度數值，結合標準判斷塗層品質，使用儀器存儲或紙筆保存，便於後續分析 。‌‌

注意事項與維護

1. ‌環境要求‌：避免強磁場干擾，遠離電磁鐵等設備，測量時避開棱角褶皺處 。‌‌
2. ‌探頭保護‌：輕拿輕放，避免磨損測頭，測量後清潔探頭，防止灰塵污垢影響下次測量 。‌‌
3. ‌長期保養‌：長時間不用取出電池，定期送檢維護，確保儀器性能穩定，延長使用壽命 。‌‌

下圖是：德國 PHYNIX，型號Surfix SX basic