膜厚計使用方法
2026-04-27膜厚計操作準備與校準
- 開機檢查:接通電源,確認電量充足,清潔探頭及被測表面,去除灰塵油污,避免影響測量結果 。
- 儀器校準:進入校準介面,選擇零點校正、單點校正模式。將探頭置於無塗層基材或標準片上,按提示完成校準,確保誤差在標準範圍內 。
- 參數設置:根據基材類型(鐵材 Fe/非鐵材 NFe)選擇測量模式,實踐中一般選自動識別 。
測量與資料記錄
- 規範測量:探頭垂直按壓被測表面,保持穩定不晃動,等待數值顯示,通常 0.5 秒即可讀數 。
- 多點取值:建議在同一區域測量 3-5 個點,取平均值以減少偶然誤差,反映區域厚度情況 。
- 資料記錄:記錄厚度數值,結合標準判斷塗層品質,使用儀器存儲或紙筆保存,便於後續分析 。
注意事項與維護
- 環境要求:避免強磁場干擾,遠離電磁鐵等設備,測量時避開棱角褶皺處 。
- 探頭保護:輕拿輕放,避免磨損測頭,測量後清潔探頭,防止灰塵污垢影響下次測量 。
- 長期保養:長時間不用取出電池,定期送檢維護,確保儀器性能穩定,延長使用壽命 。


