磁性非磁性膜厚計 Surfix SX

產品介紹

商品名稱:

磁性非磁性膜厚計 Surfix SX

詳細介紹:

德國 PHYNIX磁性非磁性膜厚計 Surfix SX

優點
● 正港德國製造，機身印有MADE IN GERMANY
● 主機皆附橡膠防撞護套，保護主機
● 薄膜式按鍵，防潑水
● FN 型用於鐵/鋼以及有色金屬測量
● FN型自動識別基材
● 可拆換式的高硬度耐磨探頭
● 統計功能（量測次數、平均值、標準差、最大值、最小值、變異係數）
● 【可選購】外接多種原廠探頭，擴充性強
● 【可選購】高溫接觸頭最高可達300°C
● 可至原廠下載軟體，將數據傳輸到PC
● 11國語文操作，可任意切換。（內含繁體中文）
● 出廠校準可追朔至德國PTB校正報告
● 符合DIN ISO 9001規範

主機規格
螢幕：高分辨率「彩色螢幕」44×33mm
校正功能：零點校正，標準片校正，刪除校正（恢復原廠校正）
統計功能：統計數據傳輸，統計及讀數傳輸，顯示統計數據，
顯示測量數據，清除測量及統計數據
測量方法：FN自動辨識，邊界值(上下限)，零點偏移
記憶體：2000讀數
資料傳輸：USB2.0（可至原廠下載軟體）
操作溫度：0 °C 至 + 60 °C
語言介面：11國語文操作（內含繁體中文）
其他設定：蜂鳴器設定，測量單位，日期時間，公英制切換
關機模式：90秒後自動關機，持續開機
電源設定：(鹼性)電池或充電電池模式
標準：DIN、ISO、ASTM、BS
主機尺寸：140×73×27mm （包括橡膠防撞保護套）
重量：205g（包括FN探頭1.5和電池）

軟體下載：Data transfer software PHYNIX.connect

驅動程式：USB driver software for Surfix Pro X, Surfix SX/EX

三種標準探頭 - 任選其一
參考圖片
探頭型號	FN 1.5（兩用）	F 1.5（磁性）	N 1.5（渦流）
量測範圍	0 - 1,500 µm (FN)	0 - 1,500 µm (F)	0 - 1,500 µm (N)
精度	歸零校準：±1μm+讀值2% 標準片校準：±1μm+讀值1%	歸零校準：±1μm+讀值2% 標準片校準：±1μm+讀值1%	歸零校準：±1μm+讀值2% 標準片校準：±1μm+讀值1%
最小單位	0~499.9μm 解析度0.1μm 500~1500μm 解析度1μm	0~499.9μm 解析度0.1μm 500~1500μm 解析度1μm	0~499.9μm 解析度0.1μm 500~1500μm 解析度1μm
使用溫度	0 °C to 60 °C	0 °C to 60 °C	0 °C to 60 °C
測量區域	5 × 5mm²	5 × 5mm²	5 × 5mm²
尺寸	Ø 14 mm × 83 mm	Ø 14 mm × 83 mm	Ø 14 mm × 83 mm

【選購】高溫接觸頭
圖片
型號	10098	10844
量測範圍	0 - 1,500 µm	0 - 1,000 µm
精度	±1µm + 讀值2%	±10µm + 讀值2%
使用溫度	-15 °C to + 150 °C	-15 °C to + 300 °C
接觸時間	最長2秒	最長2秒
尺寸	Ø 19 mm × 12 mm	Ø 19 mm × 10 mm

【選購】探頭
圖片
探頭型號	FN 1.5R	FN 1.5/90°	FN 3.5	F 10	F 30
探頭型號	F 1.5R	FN 1.5/90°	F3.5	F 10	F 30
量測範圍	0-1,500 µm (FN and F)	0 - 1,500 µm (FN)	0 - 3,500 µm (FN and F) 0 - 3,000 µm (N)	0 - 10 mm (F)	0 - 30 mm (F)
精度	歸零校準：±1μm+讀值2% 標準片校準：±1μm+讀值1%	歸零校準：±1μm+讀值2% 標準片校準：±1μm+讀值1%	歸零校準：±2μm+讀值2% 標準片校準：±2μm+讀值1%	歸零校準：±5μm+讀值2% 標準片校準：±3μm+讀值1%	歸零校準：±10μm+讀值4% 標準片校準：±10μm+讀值2%
使用溫度	0 °C to 60 °C	0 °C to 60 °C	0 °C to 60 °C	0 °C to 60 °C	0 °C to 60 °C
尺寸	Ø 16 × 24 × 62 mm	8 × 11 × 170 mm	Ø 25 × 47 mm	Ø 25 × 47 mm	Ø 75 × 55 mm