分光色差儀 KS-100

商品名稱:

分光色差儀 KS-100(四口徑)

詳細介紹:
分光色差儀 KS-100(四口徑)

三恩時 KS-100 是專為常規顏色測量設計的入門級分光色差儀,以穩定可靠、便攜易操作為核心優勢。搭載雙列 18 組矽光電二極體陣列與納米集成光譜器件,重複性 ΔEab≤0.028、台間差 ΔEab≤0.35,滿足塑膠電子、印刷、陶瓷等行業基礎色彩管控需求。4 種測量口徑適配平面 / 曲面樣品,支援多系統連接與攝像頭取景定位,新手無需複雜培訓即可快速上手。

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產品型號

KS-100分光色差儀

照明方式

D/8 (漫射照明,8°方向接收),SCI/SCE(包含鏡面反射光/去除鏡面反射光),符合標準CIE No.15,GB/T 3978,GB 2893,GB/T 18833,ISO7724-1,ASTM E1164,DIN5033 Teil7

特性

採用雙路矽光電二極體陣列,用於塑膠電子、油漆油墨、紡織服裝印染、印刷、陶瓷等行業的色差品質管控。

照明光源

組合全光譜LED光源

積分球尺寸

Φ40mm

分光方式

納米集成光譜器件

感應器

矽光電二極體陣列(雙列18組)

測量波長範圍

400-700nm

波長間隔

10nm

測量口徑

四口徑:5mm平臺+5mm尖嘴+10mm平臺+10mm尖嘴

含光方式

同時測試SCI/SCE

顏色空間

CIE LAB

色差公式

ΔE*ab

其它色度指標

/

觀察者角度

2°/10°

觀測光源

D65

顯示

光譜圖/資料,樣品色度值,色差值/,合格/不合格結果,顏色模擬,顏色偏向

測量時間

1s

重複性

色度值:MAV/SCI,標準差值ΔE*ab 0.028以內(預熱校正後,以間隔5s測量白板30次平均值)
分光反射率:MAV/SCI,標準差0.1%以內(400~700nm0.2%以內)

台間差

MAV/SCI,ΔE*ab 0.35以內(BCRA系列Ⅱ 12塊色板測量平均值)

顯示精度

0.01

反射率測定範圍

0-200%

反射率解析度

0.01%

測量方式

單次測量,平均測量(2~99次)

定位方式

穩定片定位+攝像頭取景定位

白板校驗方式

接觸式白板校驗

尺寸

 120*75*207mm

重量

367g(不含校正底座)

電池電量

鋰電池,3.7V,3200mAh,8小時內8000

照明光源壽命

10年大於120萬次測量

顯示幕

TFT 真彩 3.5inch,電容觸控式螢幕

介面

USB,藍牙

存儲資料

標樣200,試樣10000(一條資料可同時包括SCI/SCE),APP/PC海量存儲

軟體支援

Android,IOS,Windows,微信小程式,鴻蒙

語言

簡體中文,English,繁體中文

操作溫度範圍

0~40,0~85%RH(無凝露),海拔:低於2000m

存儲溫度範圍

 -20~50,0~85%RH(無凝露)

準確性保證

保證計量合格

標準附件

電源適配器、資料線、說明書、品質管理軟體(官網下載)、白校正盒、保護蓋、腕帶、測量口徑

可選附件

微型印表機、粉末測試盒

注:

如有變更,恕不另行通知