鍍層膜厚計

產品簡介：
CMI243為專門針對量測磁性金屬上面的鍍層（如鋅、鎳、鉻、銅、鎘）。
CMI243為靈活可攜式及簡單上手的儀器，只要接上一支測試頭即可量測許多鐵上的鍍層厚度，測頭配置微小探頭即使對於小面積也可以精準量測。
使用基于相位渦電流技術量測提供此儀器更佳的準確度及精度和更人性化的使用。
CMI243降低了儀器成本，並排除了使用多種測試頭校正標準片。

規格：
準確性：量測標準片時±5%
精確度：±5%
分辨率：0.01mils（0.1μm）
量測範圍：0.08~1.5mils（2~38μm）
適用標準：符合ISO 2360
                 ISO 21968（DRAFT）
                 DIN 50986 ASTM B499
                 ASTM E376 BS5411 PART3
儲存數據：26500點
極小、粗糙或特殊形狀零件的工具
尺寸：14.9×7.94×3.02 cm
重量：0.26㎏（含電池）
單位：mils及μm
連接阜：以RS-232連接至電腦或是印表機
顯示介面：液晶顯示(LCD),字符高度1.27cm
電池：9V乾電池
統計數據顯示：量測點數、平均值、標準偏差、最高值、最低值