掌上型面銅測厚儀 CMI165

商品名稱:

掌上型面銅測厚儀 CMI165

詳細介紹:

日立HITACHI 掌上型面銅測厚儀 CMI165

abCMI165.jpg
CMI165在以下的表現應用是理想的選擇:
* 測量冷熱PCB上的銅。
* 無須取樣,減少浪費。
* 測量銅箔或覆銅板上的銅厚度(以微米、密耳或盎司為單位)。
* 在進貨檢驗期間按重量排序銅,之後再實施鑽孔。
* 在實施蝕刻或平坦化處理之後量化銅厚度。
* 確認PCB面銅厚度。
* 在不使用標準片的情況下測量最薄蝕刻銅箔厚度達204微米。

測量範圍:化學銅:0.25~12.7μm,0.01~0.5mils
                   電鍍銅:2.0~254μm,0.1~10mils
高度的重複性及可靠度:σ=0.08μm at 20μm,0.003 mils at 0.79 mils
統計分析包括個別數據、平均值、標準差、最高及最低數據
可記錄9690筆測量 (可選擇記錄測量時間)
線型銅的寬度最小為0.2μm,0.008mils
USB2.0高速傳輸可於個人電腦中微軟Excel作連結
儀器已於工廠完成校正及認證
可運用連續測量模式使用2顆AA電池